太陽電池的質(zhì)量直接決定了光伏發(fā)電系統(tǒng)的效率及使用壽命。

近年來，光伏產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅猛，光伏生產(chǎn)企業(yè)遍地開花。有限的市場需求造成了企業(yè)之間競爭激烈，提高效率和降低成本成為整個行業(yè)的共同目標(biāo)。

在晶體硅太陽電池的薄片化發(fā)展過之中，也出現(xiàn)了許多嚴(yán)重的質(zhì)量問題，如碎片、電池片隱裂、表面污染、電極不良等，正是這些缺陷限制了電池的光電轉(zhuǎn)化效率和使用壽命。同時，由于沒有完善的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，硅片原材料質(zhì)量也是參差不齊，一些缺陷片的存在直接影響到組件乃至光伏系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

因此，太陽能行業(yè)需要有快速有效和準(zhǔn)確的定位檢驗方法來檢驗生產(chǎn)環(huán)節(jié)可能出現(xiàn)的問題。

對于生產(chǎn)企業(yè)來講，把好原材料質(zhì)量關(guān)、控制產(chǎn)品質(zhì)量、提高成品率、避免生產(chǎn)過程中的浪費(fèi)是 降低生產(chǎn)成本、提高競爭力的有效手段。

光致發(fā)光檢測技術(shù)可以在極短時間確定硅片缺陷狀況及其分布，非常適合應(yīng)用到硅片質(zhì)量控制、電池片生產(chǎn)工藝分析中。研發(fā)光致發(fā)光檢測設(shè)備，并應(yīng)用于晶體硅材料及生產(chǎn)過程中，對提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低生產(chǎn)成本具有非常重要的實際意義。

目前發(fā)展的現(xiàn)狀在物理材料研究領(lǐng)域，光致發(fā)光技術(shù)( PL )的應(yīng)用已有一定基礎(chǔ)，應(yīng)用于半導(dǎo)體材料進(jìn)行無損測量的光譜測定方法，能夠快速、無損傷分析材料的結(jié)構(gòu)、成分與品質(zhì)。但其存在測試范圍?。ㄎ⒚准墑e），環(huán)境要求高（探測器需零下50℃制冷），在光伏晶體硅材料及太陽電池（均屬于大面積光伏器件）測試領(lǐng)域一直未能應(yīng)用。近幾年來，伴隨著激光技術(shù)和電子成像技術(shù)的發(fā)展，光致發(fā)光技術(shù)在光伏領(lǐng)域的測試有了突破性進(jìn)展。 

國外在此領(lǐng)域的研究起步于2005 年，現(xiàn)已掌握核心技術(shù)。未來將在此儀器的分析應(yīng)用上進(jìn)一步發(fā)展。光伏晶硅材料、太陽電池工藝過程片及成品檢測技術(shù)的專利擁有者是澳大利亞新南威爾士大學(xué)，該大學(xué)不僅掌握了核心技術(shù)，而且與 BT Image 公司合作進(jìn)入了實際應(yīng)用階段。

之前，受國外技術(shù)壟斷影響，國內(nèi)在光致發(fā)光設(shè)備領(lǐng)域基本空白，因此無法將此技術(shù)投入到應(yīng)用領(lǐng)域。隨著技術(shù)實力的增強(qiáng)，上海太陽能工程技術(shù)研究中心在光致發(fā)光檢測設(shè)備的研發(fā)上有了重大的突破。武漢愛疆科技有限公司也研發(fā)出了最新一代的PL檢測設(shè)備。

定制化PL設(shè)備（可搭配生產(chǎn)線使用）

國產(chǎn) PL 檢測設(shè)備已經(jīng)面向市場， 一些先行的電池片生產(chǎn)企業(yè)已經(jīng)率先將光致發(fā)光 檢測技術(shù)應(yīng)用到產(chǎn)品質(zhì)量控制中。